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 　　【弁言小序】

　　產(chǎn)品權(quán)利要求通常采用結(jié)構(gòu)/組成等特征進(jìn)行限定，隨著技術(shù)的發(fā)展，在涉及材料等領(lǐng)域，僅借助于結(jié)構(gòu)/組成等特征有時(shí)難以清楚反映出新產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特性，因而這類產(chǎn)品權(quán)利要求可采用物理或化學(xué)參數(shù)特征進(jìn)行限定。《專利審查指南》對(duì)此情形進(jìn)行了相關(guān)規(guī)定，當(dāng)產(chǎn)品權(quán)利要求中的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)特征無(wú)法用結(jié)構(gòu)特征予以清楚地表征時(shí)，允許借助物理或化學(xué)參數(shù)表征。然而，在審查實(shí)踐中判斷涉及使用參數(shù)特征的產(chǎn)品權(quán)利要求的新穎性、創(chuàng)造性時(shí)，由于申請(qǐng)人對(duì)參數(shù)的選取或描述的空間較大，有時(shí)會(huì)采用不常用或不被關(guān)注的參數(shù)進(jìn)行限定，進(jìn)而面臨著難以將由該參數(shù)表征的產(chǎn)品與對(duì)比文件公開(kāi)的產(chǎn)品進(jìn)行比較的情況。本文以一件復(fù)審案件為例，探討此類案件審理過(guò)程中對(duì)該規(guī)則的理解和適用。

　　【理念闡述】

　　根據(jù)《專利審查指南》的規(guī)定，當(dāng)產(chǎn)品權(quán)利要求中的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)特征無(wú)法用結(jié)構(gòu)特征予以清楚表征時(shí)，允許借助物理或化學(xué)參數(shù)表征，但使用參數(shù)表征時(shí)，所使用的參數(shù)必須是所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)說(shuō)明書的教導(dǎo)或通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)可以清楚而可靠地加以確定的。可見(jiàn)，申請(qǐng)人使用參數(shù)限定產(chǎn)品權(quán)利要求時(shí)，首先要確保本領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀該權(quán)利要求時(shí)，該權(quán)利要求限定的保護(hù)范圍本身是清楚的，其次，所使用的參數(shù)需要確保所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)說(shuō)明書的教導(dǎo)或通過(guò)所屬技術(shù)領(lǐng)域的現(xiàn)有技術(shù)可以清楚而可靠地加以確定，否則，該申請(qǐng)的方案將存在保護(hù)范圍不清楚或說(shuō)明書對(duì)該方案公開(kāi)不充分的問(wèn)題。

　　對(duì)于包含參數(shù)特征的產(chǎn)品權(quán)利要求的審查，《專利審查指南》規(guī)定了應(yīng)當(dāng)考慮權(quán)利要求中的參數(shù)特征是否隱含了要求保護(hù)的產(chǎn)品具有某種特定結(jié)構(gòu)和/或組成的審查規(guī)則，其目的是防止申請(qǐng)人通過(guò)采用現(xiàn)有技術(shù)中不常用或不被關(guān)注的參數(shù)限定使得該技術(shù)方案在形式上與現(xiàn)有技術(shù)有區(qū)別，但實(shí)質(zhì)上與現(xiàn)有技術(shù)所公開(kāi)的產(chǎn)品相同的情況出現(xiàn)，從而避免申請(qǐng)人不當(dāng)獲利的情形發(fā)生。

　　根據(jù)《專利審查指南》相關(guān)規(guī)定，對(duì)于包含參數(shù)特征的產(chǎn)品權(quán)利要求，如果所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)該參數(shù)無(wú)法將要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件產(chǎn)品區(qū)分開(kāi)，則可推定要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件產(chǎn)品相同；除非申請(qǐng)人能夠根據(jù)申請(qǐng)文件或現(xiàn)有技術(shù)證明權(quán)利要求中包含參數(shù)特征的產(chǎn)品與對(duì)比文件中的產(chǎn)品在結(jié)構(gòu)和/或組成上不同。在適用上述審查規(guī)則時(shí)，審查員可以舉證證明或者論述根據(jù)參數(shù)特征無(wú)法將要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件產(chǎn)品區(qū)分開(kāi)的理由，從產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、參數(shù)特征的類型及其與結(jié)構(gòu)/組成的關(guān)系、產(chǎn)品的制備方法等方面進(jìn)行綜合考量。在化學(xué)、材料領(lǐng)域，相同或類似的制備方法通常會(huì)獲得相同或類似結(jié)構(gòu)、性能的產(chǎn)品。如果對(duì)比文件產(chǎn)品與請(qǐng)求保護(hù)的產(chǎn)品的制備方法相同或類似，則通常可以適用上述審查規(guī)則。

　　對(duì)于舉證責(zé)任的分配，《專利審查指南》考慮到前述判斷參數(shù)特征表征的產(chǎn)品權(quán)利要求的新穎性或創(chuàng)造性時(shí)可能面臨的困難，因而將一定的舉證責(zé)任轉(zhuǎn)移至申請(qǐng)人，由申請(qǐng)人承擔(dān)證明其要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件產(chǎn)品在結(jié)構(gòu)/組成上不同的舉證責(zé)任，而且應(yīng)根據(jù)申請(qǐng)文件或現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行證明，以推翻前述的不利推定。

　　【案例演繹】

　　便攜式通信電子設(shè)備的外殼材質(zhì)不斷變化，某復(fù)審案件涉及一種電子設(shè)備，對(duì)具有磨砂質(zhì)感的玻璃外殼，采用參數(shù)特征“均方根高度”“均方根斜率”和“平均峰部曲率”進(jìn)行限定。

　　涉案專利申請(qǐng)的權(quán)利要求概述如下：“1.一種電子設(shè)備，包括：殼體，所述殼體包括后玻璃蓋構(gòu)件……其紋理化區(qū)域具有……在0.25微米至1.25微米范圍內(nèi)的均方根高度（Sq）、在0.1至小于1范圍內(nèi)的均方根斜率（Sdq）、平均峰部曲率（Ssc）在0.75微米-1至2微米-1的范圍……”

　　對(duì)比文件1公開(kāi)了一種電子設(shè)備，其后外殼壁玻璃層紋理化背景的均方根高度（Sq）數(shù)值范圍公開(kāi)了涉案申請(qǐng)權(quán)利要求中的均方根高度數(shù)值范圍，未公開(kāi)與均方根斜率、平均峰部曲率相關(guān)的特征。

　　該案的爭(zhēng)議焦點(diǎn)在于：如何考量上述對(duì)比文件1未公開(kāi)的參數(shù)特征“均方根斜率”“平均峰部曲率”與涉案申請(qǐng)所請(qǐng)求保護(hù)的產(chǎn)品紋理化表面結(jié)構(gòu)間的關(guān)系？對(duì)比文件1是否公開(kāi)或給出獲得上述參數(shù)特征的技術(shù)啟示？

　　合議組基于該案的案情，在對(duì)申請(qǐng)日前技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀有了全面/清晰認(rèn)識(shí)的基礎(chǔ)上，立足于本領(lǐng)域技術(shù)人員所掌握的技術(shù)知識(shí)和能力，充分考察申請(qǐng)文件和對(duì)比文件記載的全部信息，綜合考量產(chǎn)品的制備方法、參數(shù)特征所產(chǎn)生的效果等可對(duì)比的信息，具體分析過(guò)程如下：

　　首先，合議組在現(xiàn)有技術(shù)關(guān)于紋理化表面相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中發(fā)現(xiàn)，涉及產(chǎn)品表面紋理的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)“ISO25178-2：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）—表面紋理：平面—第2部分：術(shù)語(yǔ)、定義和表面紋理參數(shù)”中明確規(guī)定，均方根高度、均方根斜率、峰頂點(diǎn)的算術(shù)平均曲率等參數(shù)均為表面紋理參數(shù)（即三維的表面粗糙度參數(shù)），其中均方根高度是定義區(qū)域中各點(diǎn)高度的均方根，均方根斜率是通過(guò)計(jì)算定義區(qū)域所有點(diǎn)斜率的均方根得出的參數(shù)，峰頂點(diǎn)的算術(shù)平均曲率是定義區(qū)域內(nèi)峰的主曲率的算術(shù)平均值。由此可見(jiàn)，這些參數(shù)均屬于反映物體表面粗糙度的物理參數(shù)。

　　其次，合議組依據(jù)《專利審查指南》中包含參數(shù)特征產(chǎn)品權(quán)利要求的規(guī)定，參數(shù)特征不同并不意味著產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)必然不同，需要根據(jù)申請(qǐng)文件和對(duì)比文件所記載的全部信息，綜合考量產(chǎn)品的制備方法、參數(shù)特征所產(chǎn)生的效果等可對(duì)比的信息。合議組依據(jù)所掌握的現(xiàn)有技術(shù)知識(shí)對(duì)本案進(jìn)行深入分析發(fā)現(xiàn)，玻璃蓋的表面粗糙度取決于原材料材質(zhì)與加工工藝、制備過(guò)程中的具體參數(shù)、設(shè)備精度等因素。例如，使用相同的化學(xué)蝕刻法制備玻璃表面，如果蝕刻劑的濃度、溫度、時(shí)間等參數(shù)一致，且設(shè)備的精度和原材料材質(zhì)也相同，那么制備出的玻璃表面粗糙度會(huì)非常接近。同時(shí)，借鑒二維的表面粗糙度簡(jiǎn)化模型可知，表面粗糙度“均方根高度”與“平均峰部曲率”之間存在著相關(guān)性。

　　鑒于該產(chǎn)品的表面粗糙度取決于材質(zhì)與加工工藝，因而制備過(guò)程中所使用的制備方法及其對(duì)應(yīng)的加工數(shù)據(jù)必不可少。對(duì)比文件1公開(kāi)了通過(guò)使用物理氣相沉積、化學(xué)氣相沉積或其他沉積技術(shù)之后進(jìn)行光刻和蝕刻，使用機(jī)械或化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備的選擇性粗糙化或拋光，使用機(jī)械加工設(shè)備、噴砂設(shè)備等進(jìn)行選擇性處理玻璃層表面的特定區(qū)域；而涉案申請(qǐng)同樣采用現(xiàn)有的研磨、噴砂、光刻、蝕刻、拋光、濕化學(xué)方法、氣相沉積方法等加工工藝制造電子設(shè)備的玻璃蓋構(gòu)件，說(shuō)明書中并未記載其他區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的特定加工工藝、制備過(guò)程中獲取特定表面粗糙度參數(shù)特征采用的具體參數(shù)、設(shè)備精度等因素，可見(jiàn)，其制造玻璃蓋構(gòu)件的加工工藝與對(duì)比文件1同屬于常規(guī)的玻璃表面加工工藝。在此基礎(chǔ)上，盡管涉案申請(qǐng)進(jìn)一步采用不同的參數(shù)特征“均方根斜率”和“平均峰部曲率”限定其表面粗糙度，但上述參數(shù)特征僅從不同的角度描述同一玻璃表面的表面粗糙度特征，在產(chǎn)品的材質(zhì)與加工工藝無(wú)明顯差異的情況下，產(chǎn)品的表面粗糙度是由其加工工藝對(duì)應(yīng)的加工數(shù)據(jù)客觀決定的，申請(qǐng)文件中并未記載在均方根高度數(shù)值范圍一定的情況下制備具有特定的例如在0.1至小于1范圍內(nèi)的均方根斜率、平均峰部曲率（Ssc）在0.75微米-1至2微米-1范圍內(nèi)的玻璃蓋構(gòu)件紋理化表面的加工數(shù)據(jù)，本領(lǐng)域技術(shù)人員無(wú)法根據(jù)其技術(shù)方案將本申請(qǐng)權(quán)利要求中包含參數(shù)特征的產(chǎn)品與對(duì)比文件中產(chǎn)品在表面粗糙度上區(qū)分開(kāi)；上述申請(qǐng)文件中也沒(méi)有給出任何實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)足以證明上述均方根斜率、平均峰部曲率取值范圍內(nèi)的產(chǎn)品能夠?qū)崿F(xiàn)可清潔性與提供特定的“感覺(jué)”的平衡，更沒(méi)有提供對(duì)比數(shù)據(jù)對(duì)被測(cè)表面與“所需微觀特征”的一致性進(jìn)行任何的評(píng)估。此外，申請(qǐng)人在后續(xù)的意見(jiàn)陳述中也未能根據(jù)申請(qǐng)文件或現(xiàn)有技術(shù)提供證據(jù)證明權(quán)利要求中包含參數(shù)特征的產(chǎn)品與對(duì)比文件中產(chǎn)品在紋理化表面粗糙度上有所不同。

　　據(jù)此，合議組認(rèn)為，依據(jù)在案證據(jù)，在綜合考量產(chǎn)品的制備方法、參數(shù)特征所產(chǎn)生的效果等可對(duì)比的信息之后，仍然無(wú)法將涉案申請(qǐng)要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件1的產(chǎn)品在其表面粗糙度特征上區(qū)分開(kāi)，推定本申請(qǐng)要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件1的產(chǎn)品在表面粗糙度特征上相同。

　　結(jié)合上述案例可知，在包含參數(shù)特征的產(chǎn)品權(quán)利要求的審查中，需要準(zhǔn)確站位于本領(lǐng)域技術(shù)人員，深入了解和鉆研相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)知識(shí)，對(duì)于產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)/組成、參數(shù)特征的類型及其與結(jié)構(gòu)/組成的關(guān)系、制備方法等方面進(jìn)行綜合考量，從而客觀公正地評(píng)價(jià)專利申請(qǐng)的創(chuàng)新性。同時(shí)，申請(qǐng)人在提出專利申請(qǐng)時(shí)如確需使用參數(shù)特征來(lái)表征產(chǎn)品權(quán)利要求的結(jié)構(gòu)，所使用的參數(shù)必須是所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)說(shuō)明書的教導(dǎo)或通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)可以清楚而可靠地加以確定的，并在專利申請(qǐng)說(shuō)明書中清楚完整地說(shuō)明所使用的參數(shù)與產(chǎn)品的特定結(jié)構(gòu)/組成之間的關(guān)系，從而避免所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)該參數(shù)無(wú)法將要求保護(hù)的產(chǎn)品與對(duì)比文件產(chǎn)品結(jié)構(gòu)/組成區(qū)分開(kāi)。（作者單位：國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利局復(fù)審和無(wú)效審理部　趙晶晶　武磊　張曄）

文章來(lái)源：中國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)網(wǎng)